三目正置金相显微镜 53X
53X型镜用于观察金属、硅片等反射标本的表面结构。可在工矿或实验室进行金属材料质量检验,金属零件处理后的金相组织分析,硅片光刻过程中图形质量的检验及其它反射标本表面微细结构的观察,也可观察具有一定反射的透明标本的表面结构。
硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
三目正置金相显微镜 53X
53X型镜用于观察金属、硅片等反射标本的表面结构。可在工矿或实验室进行金属材料质量检验,金属零件处理后的金相组织分析,硅片光刻过程中图形质量的检验及其它反射标本表面微细结构的观察,也可观察具有一定反射的透明标本的表面结构。
硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。