BM系列自动微量分析天平，是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg，有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。

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梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU(超)微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。

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