精密元素分析仪
只要有元素的光度分析方法，就可用本仪器进行分析，因而可以适用于黑色和有色金属及其合金等各种材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜等多种元素的含量分析，可以满足铸造、冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对各种材料多元素分析的需要。
日本川铁ti-45n超声波测厚仪
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科思特电化学工作站
CS150H电化学工作站±2A电流范围（可扩展至5A，20A）； ±10V电压范围（可扩展至50V）； ±21V槽压范围（可扩展至200V）； 全浮地式测量； 自由组合测试。
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新型膜厚控制仪器1
CDNY-06AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。