晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
TC-XS100型 可勃吸收性测定仪
C-XS100型 可勃吸收性测定仪是纸张和纸板表面吸水性测定的专用仪器，采用吸收性试验多种方法中可勃（Cobb）试验法进行测试。其主要技术指标和性能参数符合相关标准规定。
气体泄漏探测仪
GAS CHECK 3000 系列气体泄漏探测仪，无线手提设计，能够定量测试任何的泄漏，非常容易和快速测定气体泄漏的来源，无论追踪边沿、阀门、结合部分，都可以准确定位泄漏位置，并有声音警报和直接的漏率读数。
供应TT700超声波测厚仪
TT700超声波测厚仪是北京时代之峰科技有限公司推出的一款使用简便、测量精确的仪器，广泛应用于金属和非金属材料的薄件测量或高精度测量。 超声波测量厚度的原理是：探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
供应国产时代超声波测厚仪TT300
= 可测铸件、超薄件厚度 = 自动校准零点，可对系统误差进行修正 = 大屏幕LCD背光显示，可调对比度 = 设有高/低增益调节、电压提示、自动关机等功能 = 可设置上下限界超差报警，可用于在线测量 = 数据传输：RS232接口；可与T
XS-20-10箱式实验电阻炉 真空电阻炉 箱式炉
产品名称：XS-20-10箱式实验电阻炉 真空电阻炉 箱式炉产品型号：XS-20-10
美国博勒飞数显粘度计
美国brookfield博勒飞DV-S粘度计是brookfield新研发的经济的数字显示粘度计美国原装进口粘度计，兼具品牌的所有优秀品质及性能DV-S粘度计具有精确的测量性，可靠的性能和服务质量DV-S粘度计具有18 种转速能够满足不同的测量范围